Visite scolastiche
Per garantire un’esperienza ben organizzata e di alta qualità, l’Istituto Italiano di Tecnologia non ospita visite scolastiche su base individuale o occasionale.
IIT non dispone di un centro visite né di spazi appositamente progettati per visite guidate o attività educative. Le visite scolastiche si svolgono pertanto all’interno di ambienti di ricerca attivi, inclusi laboratori reali e spazi di lavoro operativi. Di conseguenza, durante ogni visita le normali attività di ricerca e operative del personale IIT vengono temporaneamente interrotte.
Per questo motivo, e al fine di ridurre al minimo l’impatto sul lavoro scientifico in corso, il numero e la frequenza delle visite scolastiche devono necessariamente rimanere limitati.
IIT organizza invece eventi annuali specificamente dedicati alle scuole:
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IIT School Day
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IIT International School Day
Ogni evento prevede visite guidate o presentazioni di almeno quattro laboratori di ricerca.
Le date degli School Day sono pubblicate in questa pagina. Le visite sono possibili esclusivamente in tali date.
La programmazione degli School Day avviene in periodi compatibili con le attività di ricerca e gli impegni dei gruppi di ricerca IIT, il cui lavoro non è facilmente prevedibile o pianificabile con largo anticipo.
Le iscrizioni sono gestite in ordine di arrivo, fino a esaurimento dei posti disponibili. Per favorire un’ampia partecipazione, è consentita la partecipazione di un massimo di due classi per istituto.
Per motivi organizzativi, ogni School Day è strutturato in due sessioni, una al mattino e una al pomeriggio.
Nel rispetto delle normative di sicurezza relative alla capienza degli spazi, ogni classe deve essere suddivisa in sottogruppi di massimo 15 studenti.
Ogni sottogruppo deve essere accompagnato da un accompagnatore.
Ad esempio, classi di 20, 25 o 30 studenti richiedono due accompagnatori.
La data del primo IIT School Day del 2026 è ancora da definire.
Per informazioni generali e per verificare la disponibilità, si prega di contattare school@iit.it.
