Gara a procedura aperta per l'affidamento della fornitura di una stazione di lavoro (Dual Beam) per micro/nano fabbricazione, caratterizzazione e assemblaggio di strutture tridimensionali mediante fascio ionico (FIB: Focused Ion Beam) ed elettronico (FE-SEM: Field Emission Scanning Electron Microscope) destinato al Center for Micro-BioRobotics della Fondazione Istituto Italiano di Tecnologia
Scadenza 10 febbraio 2011, ore 13:00
La Fondazione IIT ha indetto gara per la fornitura di “una stazione di lavoro (Dual Beam) per micro/nano fabbricazione, caratterizzazione e assemblaggio di strutture tridimensionali mediante fascio ionico (FIB: Focused Ion Beam) ed elettronico (FE-SEM: Field Emission Scanning Electron Microscope)”, con procedura aperta e aggiudicazione all’offerta economicamente più vantaggiosa.
Il bando integrale è stato pubblicato il giorno 28/12/2010 sulla Gazzetta Ufficiale dell’Unione Europea.
Il Disciplinare di Gara e i documenti a questo allegati sono tutti liberamente consultabili e scaricabili nella sottostante sezione
Genova, 28 dicembre 2010
IL RESPONSABILE DEL PROCEDIMENTO
Prof. Paolo Dario
Comunicazione
Si avvisa che la seduta pubblica di apertura delle buste contenenti le offerte economiche si terrà il giorno martedì 17 maggio 2011 alle ore 12:00 presso la sede di IIT, a Genova in Via Morego 30.
Genova, 06 Maggio 2011
Comunicazione
Si avvisa che la prima seduta pubblica di apertura delle buste di gara pervenute si terrà il giorno giovedì 24 marzo 2011 alle ore 12:00 presso la sede di IIT, a Genova in Via Morego 30.
Genova, 21 Marzo 2011
Rettifica
Documenti
- DISCIPLINARE-GARA-FIB-SEM-IIT-SSSA.pdf
- CAPITOLATO-TECNICO-FIB-SEM-IIT-SSSA.pdf
- Schema-di-Contratto-FIB-SEM-IIT-SSSA-sm.pdf
- Esempio dichiarazione offerta tecnica-sm.doc
- Esempio dichiarazione requisiti.doc
- Esempio dichiarazione soggetti.doc
- Esempio domanda partecipazione.doc
- Esempio-dichiarazione-offerta-economica.doc